Technische Daten des WLI moB Weißlichtinterferometers
  Messprinzip

Durch Überlagerung des von der Probe reflektierten Lichts mit einer im Objektiv erzeugten Referenzwelle ergeben sich in einem kleinen Bereich um die optimale Fokuslage charakteristische Intensitätsvariationen im Kamerabild. Spezielle Algorithmen (Details) bestimmen daraus Profilhöhe und Interferenzkontrast.

  Ausführung Sensorabmessungen 220 x 93 x 65mm incl. Objektiv und Piezoversteller.
Anschlüsse für USB 2.0 und LED an der Sensoroberseite.
Separate Steuerelektronik für Sensor und Piezoversteller im flachen Tischgehäuse.
  Mikroskop Integrierte Hellfeld-Auflichtbeleuchtung. Das Bildfeld hängt vom verwendeten Objektiv ab.
  Kamera USB 2.0-Kamera mit 768 x 576 pixel, bis 48 Bilder/s
Megapixelkameras bis 4MPix optional verfügbar.
  Beleuchtung Integrierte grün-blaue Hochleistungs-LED (505nm)
  Messbereich 100, 250 oder 400µm
Softwareoption für Messbereichserweiterung über externen Versteller
  Standardobjektive
Interferometriemodus
  2.5x 5x 10x 20x 50x 100x
numerische
Apertur
0.075 0.13 0.3 0.4 0.55 0.7
Arbeitsabstand
(mm)
10.3 9.3 7.4 4.7 3.4 2.0
Bildfeld
(µm x µm)
6960x5220 3480x2610 1740x1440 870x653 348x261 174x144
Auflösung 1
lateral (µm)
9.06 4.53 2.27 1.13 0.453/0.56 0.227/0.44
Auflösung 2
axial (nm)
1.0 1.0 1.0 0.1 0.1 0.1
  Gewicht c.a. 1kg ohne Objektiv
  Abmessungen ca. 220 x 93 x 65mm mit Objektiv und Piezoversteller.
  Systemeinbindung USB 2.0, RS232. DLL zur Intergration in OEM-Software verfügbar.
  Softwareunterstützung vollständige Einbindung in Mess- und Auswertesoftware Inspector, automatisierbar
  Optionen motorisierte Z-Achse.
motorisierte X/Y-Achse.
Software für Bildfeldzusammenführung (Panoramabilder).
Ausführung als Zusatz zu Industriemikroskop. Megapixelkamera.
  empfohlene Meßständer Enceladus.
Hyperion.
Titan.
    1 geometrisch/optisch
2 flächenhafter Ra-Wert bzw. flächenhafte Standardabweichung,
   
Produktdatenblatt (1.1MB, pdf)
   
Anwenderhandbuch (3.3MB, pdf)
 
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